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HJ 830-2017.Ambient air-Determination of inorganic elements in ambient particle matter- Wavelength dispersive X-ray fluorescence spectroscopy (WD-XRF) method.

1适用范围

HJ 830规定了测定环境空气和无组织排放颗粒物中无机元素的波长色散X射线荧光光谱法(WD-XRF)。

HJ 830适用于利用滤膜采集的环境空气和无组织排放颗粒物中钠(Na)、镁(Mg)、铝(Al)、硅(Si)、磷(P)、硫(S)、氯(Cl)、钾(K)、钙(Ca)、钪(Sc)、钛(Ti)、钒(V)、铬(Cr)、锰(Mn)、铁(Fe)、钴(Co)、镍(Ni)、铜(Cu)、锌(Zn)、砷(As)、硒(Se)、锶(Sr)、溴(Br)、镉(Cd)、钡(Ba)、铅(Pb)、锡(Sn)、锑(Sb)等元素的测定。本标准也适用于经方法验证能够达到准确度和精密度要求的其他无机元素。

在本标准推荐的各元素特征谱线条件下，方法检出限及测定下限见附录A。

2规范性引用文件

本标准引用了下列文件中的条款。凡是不注明日期的引用文件，其有效版本适用于本标准。

HJ 93环境空气颗粒物( PM1o和PM2.s)采样器技术要求及检测方法

HJ 664 环境空气质量监测点位布设技术规范(试行)

HJ/T 55大气污染物无组织排放监测技术导则

HJ/T 194环境空气质量手工监测技术规范.

HJ/T 374总悬浮颗粒物采样器技术要求及检测方法

JJG 810 波长色散X射线荧光光谱仪

3方法原理

X射线管产生的初级X射线照射到平整、均匀的颗粒物样品表面时，被测元素释放出特征X射线经晶体分光后，探测器在选择的特征波长相对应20角处测量X射线荧光强度。颗粒物负载量在一定范围内，采用薄样品分析技术,X射线荧光强度与被测元素含量成正比。

4干扰和消除

铅La线对砷Ka线有明显干扰。可采用干扰元素的校正系数予以消除。校正系数由实验确定，计算示例见附录B。

(HJ 830-2017 环境空气 颗粒物中机元素的测定 波长色散X射线荧光光谱法标准内容仅部分展示)

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