XK-200 高倍数码金相显微镜检测
日期：2023-03-10 17:11:30浏览：0次
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■提供稳定可靠的操作机构,使成像更清晰,操作更简便。
■显微镜镜体采用全新的人机工程学设计，结构匀称，实现镜体扩展积木化。
■工作台、光强与粗微调的低位操作，提高了使用的舒适性。
■广泛应用于各类半导体硅晶片检测、材料科学研究、地质矿物分析及精密工程等学科领域。
产品技术参数：
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产品型号 |
XK-200 |
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光学系统 |
有限远色差校正光学系统 |
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观察筒 |
铰链式双目，30°倾斜，360°旋转，瞳距调节范围：54-75mm， 双边±5屈光度可调；铰链式三目，固定式分光比， 双目:三目=80%:20% |
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目镜 |
PL10X高眼点平场目镜，线视场18mm |
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物镜 |
长工作距平场消色差金相物镜5X、10X、20X、50X |
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偏光系统 |
简易偏光 |
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转换器 |
内定位五孔转换器 |
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调焦机构 |
粗微调同轴，带机械上限位和松紧调节装置, 粗调行程28mm，微调精度0.002mm |
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载物台 |
双层机械移动平台,附设180X145mm平板平台, 移动范围：76mmX50mm |
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反射照明系统 |
反射式柯拉照明高照度LED芯片照明器 光强连续可调,带可变孔径光阑与视场光阑,视场光阑中心可调。 |
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摄影装置 |
摄影接筒（带PK卡口），3.2X摄影目镜 |
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摄像装置 |
1.0XC型摄像接筒 |
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透射照明器 |
6V30W透射照明系统 |
仪器拍摄效果展示： （led芯片500x）